NGHIÊN CỨU ĐẶC ĐIỂM TỔN THƯƠNG HẮC VÕNG MẠC QUANH ĐĨA THỊ TRÊN LÂM SÀNG VÀ CHIỀU DÀY LỚP SỢI THẦN KINH QUANH ĐĨA THỊ TRÊN OCT Ở MẮT CẬN THỊ CAO

Tóm tắt

Mục tiêu: Đánh giá đặc điểm tổn thương hắc võng mạc quanh đĩa thị trên lâm sàng, chiều dày của lớp sợi thần kinh quanh đĩa thị bằng OCT trên mắt cận thị cao và một số yếu tố liên quan. Đối tượng và phương pháp nghiên cứu: Nghiên cứu mô tả cắt ngang trên 168 mắt của 88 bệnh nhân có mức độ cận thị ≤-6.00D, tại khoa Khúc xạ – Bệnh viện Mắt Trung Ương. Kết quả: số mắt có tổn thương hắc võng mạc quanh đĩa thị là 118 mắt (70,2%). Chiều dày trung bình lớp sợi thần kinh quanh đĩa thị là 88,21 ± 8,74 µm, trong đó chiều dày lớp sợi thần kinh quanh đĩa thị ở những trưởng hợp có tổn thương hắc võng mạc quanh đĩa thị (86,39±8,04µm) mỏng hơn so với những trường hợp không có tổn thương hắc võng mạc quanh đĩa thị (92,52±8,92µm), sự khác biệt có ý nghĩa thống kê (p<0,01). Khi thời gian mắc cận thị càng lâu, mức độ cận càng cao và chiều dài trục nhãn cầu càng dài thì càng có nguy cơ tổn thương hắc võng mạc quanh đĩa thị. Khi mức độ cận càng cao thì lớp sợi thần kinh quanh đĩa thị càng mỏng. Kết luận: Trên mắt cận thị cao, ba yếu tố: thời gian mắc cận thị, mức độ cận thị, và chiều dài trục nhãn cầu có liên quan với tổn thương hắc võng mạc quanh đĩa thị. Chiều dày lớp sợi thần kinh quanh đĩa thị ở mắt có tổn thương hắc võng mạc quanh đĩa thị mỏng hơn ở mắt không có tổn thương. Yếu tố mức độ cận thị có liên quan với chiều dày lớp sợi thần kinh quanh đĩa thị.